儀器設備與光通訊元件
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設備名稱 |
圖片 |
用途 |
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Agilent光元件分析儀 |
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可分析光元件的極化特性。 |
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Anritsu光頻譜分析儀 |
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光源、光濾波元件之頻譜特性分析。 (教育部補助) |
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Anritsu光時域反射儀 |
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光纖長度、連接點、熔接點、光纖損耗之特性量測。 (國科會補助) |
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光纖熔接機 |
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兩段光纖之熔接。 (教育部補助) |
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摻鉺光纖光放大器 |
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放大光信號(C-Band or L-Band)。 (教育部補助) |
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ILX電流源與溫控器 |
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電流源：驅動半導體雷射或半導體光放大器。溫控器：控制熱電致冷器(TEC)。具GPIB介面。 (國科會補助) |
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ILX溫度控制器 |
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可精準控制TEC之溫度。(教育部補助) |
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Anritsu光功率計 |
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光源之光功率量測，具GPIB介面。 (教育部補助) |
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可調式光濾波器(VCF050) |
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C波段之可調光濾波器。 |
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1GHz數位示波器 |
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數位示波器，最高頻寬可達 |
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3GHz電信號頻譜分析儀 |
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分析電信號的頻譜。 |
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任意波形訊號產生器 |
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方波、弦波、三角波、鋸齒波、自編任意波形之電壓信號源。 (國科會補助) |
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可程式DC電源供應器 |
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可供電腦控制之直流電壓供應器。 (國科會補助) |
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反射式半導體光放大器 |
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放大 (教育部補助) |
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掌上型三波長光源 |
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PON可攜式三波長(1.3mm FP-LD、1.49mm DFB、1.55mm FP-LD)光源。 (教育部補助) |
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掌上型光功率計 |
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PON可攜式光功率計(1.3mm、1.49mm、1.55mm)。 (國科會補助) |
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光纖接頭端面檢視器 |
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檢視光纖接頭端面是否磨損或骯髒。 |
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1x2光開關 |
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光路保護用、3-port光循環器、低速率光調變器。 |
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4埠-光循環器 |
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提供上/下傳光信號分離。 |
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光隔離器 |
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隔離光信號的反射波、允許光信號單向傳輸。 |
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極化控制器 |
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控制光信號之極化(偏振)狀態。 |
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線性偏振片 |
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將通過之光限定為線性偏振 |
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可調式光衰減器 |
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光衰減值可調整之光衰減器 |
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50:50光耦合器 |
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將一束光分成兩束光功率均等的光或是將兩束光合成一束光。 |
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10:90分光器 |
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分光之功率比為10比90的比例分至兩路徑。 |
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1×4分光器 |
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將光功率平均分配至4個輸出埠。 |
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1×8分光器 |
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將光功率平均分配至8個輸出埠。 |
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1×32分光器 |
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將光功率平均分為32路傳輸。 |
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1.3/1.55um分波多工器 |
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將1.3/1.55um光波分離或合併。 |
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1.48/1.5μm分波多工器 |
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將1.48/1.55μm光波分離或合併。 |
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1.3/1.4/1.5μm 分波多工器 |
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將1.3/1.4/1.5μm光波分離或合併。 |
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1.6μm波段光濾波器 |
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光濾波器，濾波波段在1.6μm。 |
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光纖跳接線(FC/PC) |
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連接帶光纖接頭(FC/PC)光電元件或光檢測儀器。 |
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光纖跳接線(FC/APC) |
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連接帶光纖接頭(FC/APC)光電元件或光檢測儀器。 |
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光纖連接器(Adapter) |
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連接兩端相同類型光纖接頭。 |
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電流源模組 |
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兩組 |
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光收發模組 |
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具 |
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FP-LD |
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多模態雷射光源。 |
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PIN檢光二極體 |
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檢光元件。 |
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DFB雷射(1.6μm) |
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單模雷射光源，中心波長1614nm。 |
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雷射基座 |
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雷射驅動基座。 |
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1480nm泵激雷射 |
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1480nm之泵激雷射，可泵激摻鉺光纖。 |
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作為光放大之增益元件。 |
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單模光纖 |
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光傳輸媒介，單模傳輸，每公里損耗約0.2 dB。 |
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溫控銲槍 |
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可控溫銲槍 |
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曝光機 |
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電路板製作之曝光儀。 |
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GPIB-USB介面卡 |
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連接電腦與GPIB介面儀器，自動量測用。 |
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精密移動平台 |
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